microscope à force atomique à balayage à hauteur constante

CONT: Microscope à force atomique. [...] De même que pour le STM [microscope à effet tunnel], on distingue deux types de fonctionnement : [...] a) Balayage à hauteur constante : durant la mesure, on maintient l'échantillon à une altitude constante et on enregistre le mouvement vertical du levier. Dans ce mode de fonctionnement, c'est l'inertie du levier qui impose la vitesse de déplacement de l'échantillon. Si la vitesse venait à être trop élevée, la pointe n'arriverait pas à suivre fidèlement les contours de la surface d'où une déformation de l'image, et même des dommages éventuels sur l'objet.

OBS: The AFM can operate in either a ""constant force"" mode or a ""constant height"" mode. ... The constant height mode keeps the sample at a set height then measures the deflection of the laser on the photodiode.

OBS: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). [...] Modos de operación. [...] Modo de contacto. [...] Dos modos de operación: (i) fuerza constante (piezo en z mueve a la muestra para mantener la deflexión constante) (ii) altura constante (mantiene z constante y mide la deflexión).

OBS: O AFM [microscópio de força atômica] pode operar em diferentes maneiras para medir a topografia da superfície... No modo de operação contato, a ponta encontra-se tocando a superfície durante toda a varredura, isto é, as forças entre ponta e amostra são predominantemente repulsivas. Para este modo existem ainda duas diferentes opções de trabalho: o modo de força constante e o modo de altura constante.
OBS: No tipo de varredura com altura constante, durante toda a varredura o cantilever é mantido em uma altura fixa, e a variável de trabalho é agora a força entre a ponta e a superfície.