détecteur à émission secondaire

CONT: Deux méthodes de détection ont été employées : - L'émission secondaire d'électrons par les neutres rapides dans un détecteur à émission secondaire-scintillation. Ce procédé ne permet pas l'analyse des particules et l'effet photoélectrique en limite l'utilisation. - L'ionisation des neutres rapides par une cellule à gaz (10-2 torr d'hélium), suivie de la détection des ions par un détecteur à émission secondaire-scintillation. L'analyse des particules est alors possible par différentes méthodes : déviation dans un champ électrique ou magnétique, temps de vol.

CONT: When an electron beam strikes the surface of [an] object, secondary electrons are emitted from the object. The secondary electrons are collected by a detector, known as a secondary emission detector (SED). The detected secondary emission is then coordinated with the excitation signals applied to the electron beam to extract an image of the object.