microscope à champ proche

CONT: Un microscope à sonde locale ne possède pas de lentille; la pièce la plus importante de ces microscopes est une sonde, très fine, qui est déplacée au voisinage de l'objet, en champ proche, pour l'éclairer ou encapter un signal. Ces microscopes sont des microscopes à balayage; l'image est obtenue en déplaçant point par point la sonde et en traçant le signal détecté en fonction de sa position. Ils nécessitent l'utilisation d'un ordinateur pour visualiser les images, mais aussi pour contrôler la position de la sonde qui doit se déplacer à des distances nanométriques de la surface de l'objet.
OBS: Citons les deux formes principales de microscope à sonde locale : le microscope à effet tunnel (STM : Scanning Tunneling Microscope) qui utilise l'émission par effet tunnel d'électrons entre l'échantillon et une pointe métallique, et le microscope à force atomique (AFM : Atomic Force Microscope) qui utilise les forces de van der Waals des atomes d'une surface agissant sur une pointe, localisée en bout d'un bras de levier.
PHR: Microscope à champ proche ionique.

CONT: The near-field microscope is an advanced optical microscope that is able to resolve details slightly smaller than the wavelength of visible light. This high resolution is achieved by passing a light beam through a tiny hole at a distance from the specimen of only about half the diameter of the hole. The light is played across the specimen until an entire image is obtained.
PHR: Projection type near-field microscope.
PHR: Commercial, ionic near-field microscope.

CONT: Hay diversos microscopios ópticos para funciones especiales [como el] microscopio de campo cercano, con el que se pueden ver detalles algo menores a la longitud de onda de la luz.