testeur de tranches

Désignations

français	testeur de tranches (proposal,masculine noun)
anglais	wafer tester CONT: DELTA's automatic wafer tester. Wafers with microsystems are tested to sort out bad chips before encapsulation. The testing of microsystems is developed based on DELTA's long experience in testing of ICs (integrated circuits). The test can be purely electrical or (soon) with non-electrical stimuli and detection.

Codes : pays ou zone où la désignation a cours (CH, FR, DE, EU = Union européenne, INT = usage international). Une désignation barrée est déconseillée.

Définitions

français: Appareil généralement piloté par ordinateur et servant à vérifier le bon fonctionnement et les caractéristiques des circuits intégrés.

Classement

Collections

Électronique et informatique informatics

Domaines

Circuits imprimés et micro-électronique

API

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  "https://opendata.altius-group.ch/language/terminology/api/v1/concepts/termium-0afc8f46d64f0e65/"

Données : TERMIUM Plus, Bureau de la traduction, gouvernement du Canada. Licence du gouvernement ouvert – Canada.