microscopie à force atomique

· modifiée le 28 January 2020 · fiche FranceTerme

Désignations

français	microscopie à force atomique FR MFA abrév. FR
anglais	atomic force microscopy

Codes : pays ou zone où la désignation a cours (CH, FR, DE, EU = Union européenne, INT = usage international). Une désignation barrée est déconseillée.

Définitions

français: Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s’exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l’échantillon.
Journal officiel

Classement

Collections

Collège Chimie et Matériaux college-chimie-et-materiaux

Domaines

Chimie
Matériaux › Chimie physique
Matériaux

API

curl -H "Authorization: Token VOTRE_CLE" \
  "https://opendata.altius-group.ch/language/terminology/api/v1/concepts/franceterme-CHIM622/"

Données : FranceTerme, Ministère de la Culture, Délégation générale à la langue française. Licence Ouverte (Etalab).