profondeur d’analyse

CONT: Pour mettre en œuvre la spectroscopie Auger induite par des électrons en vue de l’analyse des surfaces solides, il suffit, en principe, de disposer d’une enceinte ultravide équipée d’un canon à électrons et d’un analyseur. Couvrant généralement l’intervalle énergétique de 50 eV [électronvolts] à 2,5 keV [kiloélectronvolts], le spectre des électrons Auger ainsi obtenu garantit une profondeur d’analyse inférieure à 10 nm [nanomètres] et il s’inscrit sur le fond continu des électrons primaires rétrodiffusés et en amont du spectre des électrons secondaires.

CONT: Standard AES [Auger Electron Spectroscopy] and XPS [X-ray Photoelectron Spectroscopy] instruments have the ability to sputter argon ions to depth-profile the surfaces of interest, yielding composition as a function of depth. For stainless steel analysis, the total depth of analysis is typically 15 nm [nanometers].