couverture de pannes

CONT: En principe, le test des circuits séquentiels est difficile dû à la forme cyclique de ces derniers mais en combinant le test IDDQ avec les mesures de testabilité et l'insertion de points de test, nous atteindrons une excellente couverture de pannes.

CONT: Fault coverage is the percentage of total faults detected by the test.
CONT: ... fault coverage measures the effectiveness of the vectors at finding manufacturing defects.

CONT: Con la simulación de errores se obtiene una medida cuantitativa de la calidad del banco de pruebas, llamada cobertura de errores. La cobertura de errores indica el grado de comprobación que realiza dicho banco de pruebas sobre la funcionalidad del circuito. Asimismo, se genera una lista de errores no detectados, que indica al diseñador las zonas del código que no han sido suficientemente probadas.